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igbt模塊的擎住效應(yīng)
2022-03-24

當(dāng)igbt模塊處在斷開(kāi)情況和處在正常穩(wěn)定通態(tài)時(shí)(ic不超過(guò)允許值時(shí)),Rbr上的壓降都較小,并不能產(chǎn)生T2的基極電流,T2不起作用。
但倘若ic瞬時(shí)過(guò)大,Rbr上壓降過(guò)大,則將會(huì)使T2導(dǎo)通,而一經(jīng)T2導(dǎo)通,即使撤除門極電壓UGE,igbt模塊仍然會(huì)像晶閘管模塊一樣處在通態(tài),使門極G失去控制作用,這種現(xiàn)象稱為擎住效應(yīng)。
在igbt模塊的設(shè)計(jì)制造時(shí)已盡可能地降低體區(qū)電阻Rbr,使igbt模塊的集電極電流在最大允許值ICM時(shí),Rbr上的壓降仍低于T2管的起始導(dǎo)電所需要的正偏壓。
但在實(shí)際運(yùn)行中ic一經(jīng)過(guò)大,則將會(huì)出現(xiàn)擎住效應(yīng)。
倘若外線路無(wú)法限制ic的增加,則將會(huì)毀壞元器件。
除過(guò)大的ic將會(huì)產(chǎn)生擎住效應(yīng)外,當(dāng)igbt模塊處在斷開(kāi)情況時(shí),倘若集電極電源電壓過(guò)高,使T1管漏電流過(guò)大,也將會(huì)在Rbr上產(chǎn)生過(guò)高的壓降,使T2導(dǎo)通而出現(xiàn)擎住效應(yīng)。
將會(huì)出現(xiàn)擎住效應(yīng)的第三個(gè)情況是:在斷開(kāi)過(guò)程中,MOSFET的斷開(kāi)十分迅速,MOSFET關(guān)斷后圖1(b)中三極管T2的J2結(jié)反偏電壓UBA增加,MOSFET斷開(kāi)得越快,集電極電流ic減小得越快,則UCA=Es-R

主要產(chǎn)品為各種封裝形式的絕緣式和非絕緣式功率半導(dǎo)體模塊、各種標(biāo)準(zhǔn)和非標(biāo)準(zhǔn)的功率半導(dǎo)體模塊等。
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